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    高壓放大器在液晶顯示圖像殘留研究中的應用

    作者:Aigtek 閱讀數:0 发布时间:2024-07-02 14:55:37

      實驗名稱:納米粒子摻雜對響應時間的影響

      測試設備:高壓放大器、信號發生器、示波器、熱台控制器、衰減器、探測器等。

      實驗過程:

    VAN盒响应时间的测量装置

      圖1:VAN盒響應時間的測量裝置

      响应时间也是影响液晶显示图像残留的重要参数,响应时间越短越不容易产生图像残留。实验中测量响应时间的装置如图1所示,光源为632.8nm的红色激光,光源经过衰减器、可调光阑、偏振片和λ/4波片后成圆偏振光,经过起偏器后成线偏振光,起偏器与检偏器的光轴方向成90°,热台控制液晶盒的温度为28°C。信号发生器输出1kHzAC方波信号和DC信号的组合波形,组合波形的周期为2s,经高壓放大器放大后施加在液晶盒上。当电压超过液晶盒阈值电压后,探测器会检测到光强的变化并传输到示波器上,通过示波器可以观察到液晶的动态响应过程。

      實驗結果:

    不同掺杂浓度γ-Fe2O3納米粒子與負性LC混合物在VAN盒中的下降和上升時間

      圖2:不同摻雜濃度γ-Fe2O3納米粒子與負性LC混合物在VAN盒中的下降和上升時間

    不同掺杂浓度与响应时间的关系

      圖3:不同摻雜濃度與響應時間的關系(a)歸一化透過率與下降時間的關系;(b)歸一化透過率與上升時間的關系;(c)下降時間與摻雜濃度的關系;(d)上升時間與摻雜濃度的關系

      實驗測得的不同摻雜γ-Fe2O3納米粒子濃度對響應時間的影響如圖2所示,由圖可知納米粒子摻雜對響應時間有一定的影響。圖3(a)和圖3(b)分別給出了下降時間和上升時間的放大圖,其中下降時間爲去電壓過程,上升時間爲加電壓過程;由圖3(c)和圖3(d)可以看出上升時間和下降時間均隨摻雜濃度的增加先降低後升高,並在摻雜濃度爲0.034wt%時達到最低值,在摻雜濃度爲0.034wt%時,下降時間可以縮短8.11%,上升時間可以縮短15.49%。SRDCV與響應時間隨γ-Fe2O3納米粒子摻雜變化規律一致,說明γ-Fe2O3納米粒子的摻雜有效改善了VAN顯示模式的圖像殘留現象。

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