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高壓放大器在表面電位衰減理論與測試系統中的應用

作者:Aigtek 閱讀數:0 发布时间:2024-05-22 14:26:20

  實驗名稱:表面電位衰減理論與測試系統

  測試目的:表面電位衰減是通過電暈放電給絕緣材料表面進行充電,充電過程中電暈中的電荷會進入材料內部。基于陷阱理論,這些空間電荷會被材料內部的陷阱所捕獲形成表面電位。材料另一面與地電極相連,在撤去外加電壓後電荷逐漸脫陷從而形成電位衰減過程。電位的衰減主要是由于充電過程中的入陷電荷通過電荷輸運流入地電極形成的。

  測試設備:高壓放大器、高壓直流電源、信號發生器、高壓探頭、高速高壓靜電電壓表和計算機等。

  實驗過程:

表面电位衰减测试系统

  圖1:表面電位衰減測試系統

  基于以上理论搭建了表面电位衰减测试系统,如图1所示。从图中可知,该测试系统主要由加压?、测量?、温控模块、传动?楹筒杉?榈茸槌。加压?榘ǜ邏褐绷鞯缭、高壓放大器、信号发生器;电极?榘ㄓ敫邏悍糯笃飨嗔恼氲缂、与高壓直流电源相连的均压网(栅极)和试样另一面相连的地电极;传动?橹饕怯捎氲氐缂嗔拇凸斓篮涂刂葡低匙槌桑梢栽人俚亟匝椭粮邏禾酵废。温控?橹饕怯捎氲氐缂嗔募尤却臀驴叵低匙槌桑员Vけ徊獠牧显诓煌阄孪陆胁饬。采集?橹饕ǜ邏禾酵、高速高壓静电电压表、DAQ和计算机。

  測試過程如下:將試樣放置在地電極上,保持均壓網到試樣表面以及均壓網到針電極的距離均爲5mm。調整所需要的測量溫度,等溫度穩定後開始加壓,對針電極施加直流電壓爲-8kV,均壓網上的電壓爲-4kV。均壓網的作用是使電暈産生的電場均勻地作用在試樣的表面,且作爲電壓衰減的鉗位電壓。電暈充電時間爲3min。充電結束後通過傳送軌道將試樣迅速勻速移動到探頭下,表面電位數值通過高速高壓靜電電壓表顯示,最後通過DAQ和計算機的LabVIEW程序進行采集,采集時間爲40min。實驗過程中的濕度控制在30%以下。

  實驗結果:

  搭建實驗裝置,介紹了表面電位衰減理論並搭建了不同溫度表面電位衰減測量裝置以及實驗條件。

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