實驗名稱：高性能光與原子糾纏界面産生中的實驗技術

　　測試目的：糾纏保真度、恢複效率和存儲壽命是高性能光子-原子糾纏界面的重要指標。漏到探測系統中的寫光、讀光和鎖定光是導致糾纏保真度下降的主要因素，我們用模式清潔器和F-P濾波器組合進行濾除；環形腔用來增加光與原子系綜的耦合強度，提高恢複效率，我們用PDH技術實現環形腔鎖定。

　　測試設備：高壓放大器、函數發生器、光隔離器、電光調制器、激光器、PZT等。

　　實驗過程：

　　图1：PDH锁定原理图。Laser：激光器；ISO：光隔离器；EOM：电光调制器；Cavity：模式清洁器（环形腔）；PZT：压电陶瓷；BS：分束镜；Detector：光电探测器；HP：高通滤波器；HV：高壓放大器；Oscillator：函数发生器；DB：位相延迟器；Mixer：混频器；LP：低通滤波器；PID：比例积分器

　　用模式清洁器滤除光源的非相干成分，用环形腔提高光与原子系综的耦合强度。模式清洁器和环形腔均采用PDH锁定技术稳定腔长，图1为PDH锁定原理图。一束频率锁定的激光经过光隔离器和电光调制器（经高壓放大器放大的函数发生器信号驱动）后，调制后的激光注入模式清洁器（环形腔），用光电探测器探测透射或反射腔信号。探测到的信号经高通滤波器后与函数发生器经相位延迟器的信号混频，混频后的信号经低通滤波器后得到误差信号。误差信号经比例积分器和高壓放大器后反馈至模式清洁器（环形腔）的压电陶瓷上，驱动压电陶瓷稳定腔长。

　　實驗結果：

　　搭建實驗裝置，介紹了實現高性能存儲器需要用到的實驗技術和方法，包括地磁場精確補償、模式清潔器、F-P濾波器和PDH鎖頻技術。最後介紹了光與原子相互作用基本理論。這些技術及理論爲高性能原子-光子糾纏界面的産生奠定了基礎。

　　高壓放大器推荐：ATA-7015

　　圖：ATA-7015高壓放大器指標參數

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